AFM katı veya sıvı yüzeylerinin Å seviyesinde topografik görüntülenmesinde kullanılan bir yöntemdir. AFM’de hem iletken hem de iletken olmayan örnekler ölçülür. AFM’de uç ve örnek arasındaki atomik kuvvetler algılanır. Cihaz ile katı örnek yüzeylerine ilişkin atomik boyutta çözün&uum l;rlüğe sahip görüntüler elde edilir. Örnek yüzeyi, ucu iğneli kaldıraç yay (cantilever) ile sürekli olarak taranır. İğne uç ile yüzey arasındaki etkileşim kuvvetleri, kaldıraç yayın aşağı ve yukarı hareketiyle sabit tutulur ve yayın hareketi hassas optik sistemlerle algılanarak görüntüye dönüştürülür. Kaldıraç yayın hareketi, parlak yay yüzeyine gönderilen ve buradan yansıyan lazer ışınının pozisyon algılayıcı fotodiyodlar üzerine düşürülmesi ile algılanır. AFM cihazları genel olarak iki farklı modda çalışırlar: Bunlar; statik (contact) mod ve dinamik (tapping) moddur.