X-Işını Kırınımı Yöntemi

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarının karakteristik bir düzen içerisinde kırılması esasına dayanır. XRD cihazıyla kristal yapıdaki malzemelerin nitel incelemeleri yapılır. Cihaz toz veya bulk halindeki numune analizlerine uygundur. Cihazda bakır (Cu) x-ray kaynağı, son teknoloji optik düzenekler, numune tutucular ve pixel teknolojisine sahip CERN patentli XRD dedektör (PIXcel 1D) sistemi mevcuttur. Toz örnekler 100 mikrondan küçük öğütülmüş olarak hazırlanmalıdır.

Uygulama Alanları: